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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:LZ-200J日本KETT膜厚儀雙探頭帶打印電磁渦流兩用型

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品廠商:日本KETT膜厚儀
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0
  • 折扣價(jià)格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
LZ-200J采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鋅、錫等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁鋅、錫等)上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。內(nèi)置打印機(jī),可打印數(shù)據(jù),有四個統(tǒng)計(jì)功能,可外接電腦。日本KETT原裝進(jìn)口LZ-200J
詳情介紹:

本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鋅、錫等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁鋅、錫等)上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。內(nèi)置打印機(jī),可打印數(shù)據(jù),有四個統(tǒng)計(jì)功能,可外接電腦。

型號 LZ-200J
電磁渦流兩用型
測定方法 電磁式                              高頻渦流式
測定對象 磁性金屬上非磁性涂鍍層           非磁性金屬上絕緣層
測定范圍 0-1500μm                             0-800μm
測定精度      <15μm±0.3μm   >15μm±2% , <  50μm±1μm  >50μm±2%
分辨率      <100μm   0.1μm  , >100μm   1μm  
探頭      LEP-J / LHP-J
統(tǒng)計(jì)功能      測試數(shù) /zui大值/zui小值/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/連續(xù)測量
界限設(shè)定      可設(shè)定上/下限數(shù)值
測試單位      公/英制互換
顯示方式      LCD 數(shù)顯
操作面板      密封防水按鍵
打印      本機(jī)內(nèi)置打印機(jī),可以直接打印數(shù)據(jù)
附屬品      基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/測頭/電池/曲面支架/皮套/說明書
電源      5#電池×10個,另帶220V變壓器
體積      120(W)×250(D)×55(H)
重量      1100g


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